毕业设计（论文）

译文及原稿

译文题目： 使用 8051 单片机验证和测试单粒子效应的加固工艺

原稿题目： Validation and Testing of Design Hardening for Single Event 

Effects Using the 8051 Microcontroller

原稿出处： 作者：Howard, J.W., Jr.  LaBel, K.A.  Carts, M.A.  Seidleck, 

C.  Gambles, J.W.  Ruggles, S.L. 
国家：NASA-GSFC, Greenbelt, MD, USA 

出处：Radiation Effects Data Workshop, 2005. IEEE