同位素测井和氧活化测井对比分析

摘要：在解释同位素测井曲线吸水状况时存在沾污的问题，不能全面了解吸水剖面的情况
通过了解同位素测井和氧活化测井的原理，分析它们各自的优势与不足，在解释时综合两
种测井方法，能够有效的校正同位素测井解释中所出现的一些误差，反映地层的吸水能力。

 

　　关键词：沾污；同位素测井；氧活化测井；吸水能力

 

　　

 综合氧活化测井的优势，能够有效反映地层的吸水能力，减小解释吸水剖面时所出现

的干扰，弥补同位素曲线解释吸水层的不足

[1，2]。氧活化测井不受沾污、水质影响、能客观

反映管内外流体的流速，但大厚层吸水状况不能细分；同位素测井分层性好，但影响因素
多。所以把同位素测井和氧活化测井结合起来，这样能兼顾两种方法的优点，正确反映地层
的吸水能力。

 

　　一、同位素测井原理

 

　　同位素测井是在注水井正常注水情况下将放射性同位素载体注入井内。随着注入水的流
入，同位素载体滤积在注水层的岩石表面上，然后用自然伽马测井仪测取同位素曲线，曲
线上显示出的放射性同位素载体强度的差异显示了注入量的大小，通过对比前后测得的自
然伽马曲线，即可得出各注水层的注水量。注水时通常采用分层配注，就是把特征相近的油
层合为一个注水层段，用封隔器把所需分开的层段隔开。在同一层段，各层注水量不同而需
要控制时，在各层装上水嘴，用不同直径的水嘴来控制各层的注入量。同位素载体均匀滤积
在射孔井段的地层表面上，单位面积上附着放射性同位素与地层厚度及吸水量成正比。将校
正后的自然伽马基线和同位素曲线作叠合处理，则对应射孔层所形成的面积反映了地层的
吸水能力。但是在生产过程中，由于注入水质差，套管内壁粗糙等的影响，不可避免的会造
成同位素在工具位置有沾污影响，甚至在沾污与吸水层位重合时，干扰吸水面积的计算。沾
污分为吸附沾污和沉淀沾污。在油套管接箍、配水器、套管内壁、油管内外壁等处的沾污属吸
附沾污，封隔器及井底沾污主要是同位素载体沉降造成的。为了得到有效的各层吸水量，必
须从所测的同位素曲线异常幅度中减去这些沾污导致的影响。

 　　 

　　在

970 米深度处有同位素曲线有异常，但正对水嘴工具，并且井温曲线没有异常显示 ，

所以此位置应该判定为不吸水，为工具沾污。在

C 层同位素曲线有异常，并且射孔层位对

着水嘴工具有工具沾污影响。但是，在此处井温曲线有异常显示，因此判断此层吸水。通过
C 层有效厚度、有效渗透率等参数适当扣除一些吸水面积。在 999 米深度处同位素曲线有异
常，且正对水嘴工具，同时井温虽有异常但以走地温梯度，因此判断为不吸水。沾污干扰吸
水面积的计算，不能全面的了解各层的吸水状况。然而，相对于氧活化，并不受到放射性沾
污、水质等因素的影响。

 

　　二、氧活化测井原理

 

　　脉冲中子氧活化是一种通过放射性示踪求取水流速度的测井方法。用高能脉冲中子激活
氧原子并引发一系列原子核反应，处于激发态的氧原子释放出高能伽马射线，通过解析时
间谱可以计算出水流速度，进而计算水流量。在测量时，当水经过中子发生器周围时，被快
中子活化，被活化的水在流动过程中发生

β-衰变放射出 6.13MeV 的伽马射线，分布于不同

源距的

3 个探测器可以观察到该伽马射线的增加，通过测量活化水到达探测器所经历的时

间，结合源距便可计算出水流速度。氧活化测井不使用放射性示踪剂，不受注入流体粘度的
影响，不受岩性和孔渗参数以及射孔孔道大小的影响，方便了各种情况下的管内、环空及套
管内水流量测量。

 

　　三、同位素测井与氧活化测井的分析

 

　　

B 是笼统上返井。在 2008 年 10 月进行了同位素测井，2013 年 3 月又进行了氧活化测井。