断栅处在发光强度较弱或不发光。
2.4 烧结缺陷
在电池片生产过程中，烧结工序工艺参数不佳或烧结设备存在缺陷时，生产出来的电
池片在
EL 测试过程中会显示为大面积的履带印。实际生产中通过有针对性的工装改造就可
以有效的消除履带印的问题。例如采用顶针式履带生产出来的电池片在
EL 测试图只能看到
若干个黑点而没有大面积的履带印。
2.5 黑芯片
黑芯片在
EL 测试图中我们可以清晰的看到从电池片中心到边缘逐渐变亮的同心圆，
它们产生于硅材料生产阶段，与硅棒制作过程中氧的溶解度和分凝系数大有关。此种材料缺
陷势必导致晶体硅电池片的少数载流子浓度降低，从而导致电池片中有此类缺陷的部分在
EL 测试过程中表现为发光强度较弱或不发光。
2.6 电池片混挡
一块组件的
EL 测试图中有部分电池片发光强度与该组件中的大部分电池片相比较弱，
这是由于这部分电池片的电流或电压分档与该组件中大部分电池片的电流或电压分档不一
致造成的。
2.7 电池片电阻不均匀
EL 测试单个电池片表面发光强度不均匀，这是由于电池片电阻不均匀造成的, 较暗区
域一般串联电阻较大。这种缺陷也能反应电池片少子寿命的分布状况，缺陷部位少子跃迁机
率降低，在
EL 测试过程中表现为发光强度较弱。
3.结论
电致发光（
Electroluminescence,EL）的检测方法，利用电致发光的原理对晶体硅太阳
电池及组件做了近红外成像测试，通过
EL 测试图迅速地检测出了太阳电池及组件中可能
存在的缺陷，是一种有效的检测电池、组件的方法。
EL 测试在太阳电池及组件质量分析和质
量控制中发挥越来越重要的作用。
[科]
【参考文献】
［ １ ］ 刘 恩 科
, 朱 秉 生 , 罗 晋 生 等 . 半 导 体 物 理 学 [M]. 西 安 : 西 安 交 通 大 学 出 版 社 ，
1998:286.
［２］郑建邦，任驹，郭文阁等
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能学报
,2006,27(2):121-125.