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↓
↑
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┌─────┐
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└────→┤
├────┘
被测装置
└─────┘
图 5
根据测试分系统及其各组成单元的性能、相互关系,可从不同角度出发将
测试分类:
系统测试与分部测试
(按测试对象或被测装置(UUT)分)
;
静态测试与动态测试
(按输入激励分)
;
联机测试与脱机测试
(按测试时 UUT 与装备关系分)
;
定量测试与定性测试
(按测试输出分)
;
自动测试与人工测试
(按控制方式分)
。
1.2 机内测试(BIT)
为了提高测试效率,在装备内部设计了硬、软件或利用部分功能部件来进
行测试,这就是机内测试。即:任务系统或设备本身为故障检测、隔离或诊断
提供的自动测试能力,称为机内测试
(Built-in-Test)。完成 BIT 功能可识别的部
分称为机内测试设备
(BITE)。
BIT 按运行时机和目的可分为:
任务前
(飞行前、工作前)BIT
;
任务中
(飞行中,工作中)BIT
;
维修
BIT
。
BIT 按启动和执行方式可分为:
连续
BIT
;
周期
BIT
;
启动
BIT
。
1.3 测试性
测试性是随着测试问题的日益突出而提出的。各种武器系统和设备的发展,
功能多样化,技术与结构的复杂化,导致了检测与隔离故障越来越困难。在电
子系统中检测隔离故障的时间往往要占修复时间的大部分
,在其他复杂武器系统
与设备中也达到
35%~60%.何况许多装备即使不修理、不工作,仍然要检测。
因此,测试成为影响武器系统效能(战备完好、任务成功)及使用维修费用的
重要因素。为了解决严重的测试问题,必须将有关测试的要求纳入研制、生产、
使用的全过程并加以解决。从而提出了测试性问题。在
80 年代,测试性基本
上 是 作 为 维 修 性 一 部 分 来 研 究 解 决 的 ,
1985 年美 国颁 布 了 MIL—STD—
2165《电子系统与设备测试性大纲》,对电子系统与设备单独提出测试性工作;
进入
90 年代,测试性作为相对独立的特性,已扩展到其他装备。
1.3.1 定义
测试性定义为:产品(系统,分系统,设备或组件)能够及时而准确地确
定其状态(可工作、不可工作或性能下降),并隔离其内部故障的一种设计特