电导率的测定主要采用了四探针测量电阻率的方法。所采用的四探针测量仪是

SX1934 (SZ-82)数字式四探针测试仪，该仪器是利用四探针测量原理的多用途综合测量装
置。它可以测量片状、块状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和
扩散层的薄层电阻

(方块电阻)。采用活塞式压片模具，在 20MPa 压力下，将电极材料粉末压

成直径为

1.5cm、厚度约为 1cm 的圆片，然后利用该仪器在样品上选取不同的区域测量其电

阻率，进行平均取倒数得到其电导率。