SR2G09L0103750-（暗区）  15.8322  16.1500  2.01%  222~1051cycles 
SR2G09L0103797（暗区）  15.2770  14.8761  -2.62%  222~1051cycles 
SR2G09J0103682（划伤）  16.4755  16.2063  -1.63%  222~1051cycles 
SR2G09J0202191（划伤）  16.2367  16.4158  1.10%  222~1051cycles 
SR2G09L0203211（暗区）  15.5062  14.3636  -7.37%  222~1051cycles 
SR2G09K0203591（暗斑）  15.3127  15.4853  1.13%  222~1051cycles 
SR2G09L0203131（暗区）  15.2887  15.5980  2.02%  222~1051cycles 
SR2G09J0103700（轻划伤）  15.9272  16.0047  0.49%  222~1051cycles 

表

-2 部分接收器在经过超过 1000 个热循环后的老化前后电性对比

3 聚光太阳电池的湿-热测试
    湿-热测试的目的是确定太阳电池或接收器组件承受长期湿气浸扰影响的能力。对高倍聚
光接收器而言，湿

-热测试可能发生的失效机理应包括接收器密封、划伤半导体或减反射膜

承受长期湿气浸扰受到破坏。表

3 给出湿-热测试条件选项。

选项

  温度  湿度  循环时间  电流条件 

HFC-1  85°C ± 2°C   85% ± 5%  1000 小时  无 
HFC-2  65°C ± 2°C  85% ± 5%  2000 小时  无 

表

3 湿-热测试条件选项

    我们从接收器亮灯测试问题样品中挑出 7 个芯片封装到铝基板上进行高温高湿实验，其
中有五个划伤芯片，两个是亮灯正常、采用脉冲聚光太阳能模拟器进行

I-V 特性测试也是正

常的，这两个正常样品用来与有异常现像的芯片进行对比；环测机设定环境温度

65

℃、湿

度

85%。

    表 4 为 7 个接收器在经过 1520 个小时高温高湿实验后的老化前后电性对比，电性测试使
用脉冲聚光太阳模拟器，由于实验时间跨度时间较长，考虑到不同时间测试仪器本身的误
差，本实验选取标准片作为监控，测试仪测量误差

±5%。试验表明，聚光太阳电池芯片在经

过

1520 个小时高温高湿实验后，良品在长时间的高温高湿环境下，电性总体衰减不明显，

但部分划伤半导体电性衰减较大。分析

7 个样品经过高温高湿实验前后功率变化和填充因子

变化，划伤半导体电性衰减较大的原因主要在于填充因子的降低，其失效模式在于湿气侵
入半导体，半导体的损伤加大，从而导致明显的漏电。

样品

  老化前功率  老化后功率  功率衰减  老化时间 

SR2G09L0301352-浅伤半导  16.4893  15.180187  -7.94%  1520H 
SR2G09L0301348-深划伤  16.5980  15.115627  -8.93%  1520H 
SR2G09L0403115-浅伤半导  16.3469  8.6897197  -46.84%  1520H 
SR2G09L0403164-浅伤半导  16.3520  9.7246286 -40.53%   1520H 
SR2G09L0301609-深划伤  16.2443  14.181799  -12.70%  1520H