1 整体和微量分析技术
1.1 X 射线荧光（XRF）技术
X 射线荧光光谱法
(XRF)具有分析速度快、分析范围广、多元素同时测定等特点，
是岩石矿物分析最有效的手段之一。孙平蕙等
（
1985）研究岩石和矿石中微量稀土分
量
X 射线荧光光谱测定法，降低了背景和检出限，提高了灵敏度。尚凤军等
（
2001）
介绍了采用小型
X 射线管激发源、电制冷 Si-PIN 探测器及笔记本微机能谱分析等最新
技术的高灵敏度野外
X 射线荧光分析系统。采用 X 射线荧光测量在现场快速划定金矿
靶区的范围，同时可以指导野外地质采样。常玉文
（
2003）介绍了 X 射线荧光光谱法
以铑靶的康普顿散射线强度为内标，测定了铁矿石中的锡。该方法简便、快速、准确，完
全能够满足日常生产对铁矿石样品中锡的分析要求。普旭力等
（
2008）采用 X 射线荧
光光谱法测定铁矿粉中的
TFe(全铁量)、SiO
2
、
Al
2
O
3
、
P、S、CaO、MgO、MnO 和 TiO
2
等
9
个组分。该法对铁矿石中主量和次量元素的测量结果满意，方法快速、简便、准确、精密
度好。张勤等
（
2008）采用粉末压片制样，用 X 射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积
物等样品中
C、N、F、S、Cl 等 42 种元素。该方法的检出限，精密度和准确度绝大多数能
满足覆盖区多目标地球化学调查样品的质量要求。
1.2 ICPAES 技术
电感耦合等离子体发射光谱（
ICPAES）技术的引入使多元素分析技术成为地质分
析方法体系的主体，是当今地质分析中分析元素范围最广、含量跨度最大的多元素同时
分析方法。李东等
（
2001）研究了磷矿石主、痕量成分分析，建立了采用 HF-HClO4
溶解样品后直接测定磷矿石中主、痕量元素
(9 种)的 ICP-AES 方法。刘先国等
（
2002）
应用电感耦合等离子体发射光谱法对硅铁中微量元素的测定进行了研究，采用基体匹
配法消除了大量基体的干扰，选择了最佳激发条件。常平等
（
2002）采用电感耦合等
离子体原子发射光谱法检测了黄铁矿中
Cd、Co、Cu、Mn、Pb、Zn 和 Ni。用干扰系数校正
法消除黄铁矿中铁对上述元素的干扰
,采用 HCl-HNO3 体系溶解矿样，不需化学分离，
直接测定。崔德松等
（
2009）采用电感耦合等离子体发射光谱法同时测定重晶石矿石
中
Ba、Sr，再将 Ba 换算成 BaSO4。研究了基体对 Sr 测定的影响及消除，方法简便、快
速，准确。冯晓军等
（
2009）采用碳酸锂-硼酸混合熔剂在高频熔样机上熔融样品酸
化定容后，直接用电感耦合等离子体发射光谱法快速测定磷矿石中五氧化二磷、氧化钙、
氧化镁、二氧化硅、氧化铁、氧化铝、氧化钾、氧化钠、二氧化钛、氧化锰、氧化锶
11 组分的
含量，对入射波长、雾化压力、入射功率、提升量等分析条件进行了优化。建立的方法抗
干扰能力强，线性范围宽，精密度高，结果准确，适用于磷矿石中主次量组分的分析。
1.3 ICPMS 技术
电感耦合等离子体质谱（
ICPMS）被称为 20 世纪元素分析技术最重要的进展。由
于其高灵敏度和谱线相对简单，已经成为地质分析中痕量及超痕量元素（包括稀土和