途径是从
module 边缘
逐渐向内延伸，主要原因可能是
SnO2 与 H2O 发生化学反应生成了不传导的 SnO,这会使
TCO/class 界面逐渐分层。
在实验中发现，对地电位负偏的电池板的受腐蚀程度非常明显，从
module 边缘以“头
发丝
”状的缝隙开始，随着腐蚀的不断发展，腐蚀程度越来越严重，最后包括 TCO、PV 半
导体层及背部金属层都受到了损害，而且
Class/TCO 之间发生了分层，对地负偏压越高，
损害越严重。对地电位正偏的薄膜电池受腐蚀程度相对较小，与没有漏电流相似，注意并不
是没有腐蚀。
薄膜电池腐蚀程度对电压极性的依赖可能是由于
Na＋从 class 移动到了 SnO2 层，并且
与
SnO2 层的 fluorine 发生了化学反应，而且反应受 H2O 而加速。为了证实这个假设，在实
验中用
borosilicate glass 代替 soda-lime 又进行了测试，结果发现损害大量减小，假设得到
了证实。
为了验证铝框架对漏电流的影响，当把铝框架移掉后，漏电流的幅值大幅度降低，几
乎没有可看得见的损害，从而验证了漏电流对电池板的性能影响。
Fig.14、Fig.15、Fig.16、Fig.17、Fig.18 分别为薄膜电池对地负偏压情况下的实验结果。
Fig.14－
600V 偏压模块
Fig.15 －
600V 偏压模块
Fig.16－
300V 偏压模块
Fig.17－
150V 偏压模
块
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