成聚戊糖含量。另外,利用紫外可见分光光度计的双波长比色法,以
戊糖、己糖的等摩尔吸收波长和戊糖的特征吸收波长为基础,可以实
现了阔叶木和草类原料半纤维素(聚戊糖含量高于聚己糖)提取液中
总糖、戊糖和己糖含量的快速测定与分析。

三、二次离子质谱：二次离子质谱是用Ar,Xe等惰性气体电离产

生重离子来轰击样品表面,引起表面原子、分子或原子簇的二次发射,
这些粒子通常为中性粒子,其中一部分带正电荷或负电荷,这些就是
二次离子质谱所要检测的二次离子,把轰击出的碎片连同轰击时弹
射出去的原激发离子一同送入质谱仪,进行质量分离与检测,最后得
到质谱。二次离子质谱的显著特点是能得到表面单层元素组分及表
面结构信息,但定量分析性能较差,检测时可能对样品有一定的破坏
性。将飞行时间仪器(TOF)与二次离子质谱相结合的飞行时间-二次
离子质谱(TOF-SIMS)已发展为一种成熟且完善的表面分析技术 。
Ozaki等人利用TOF-SIMS研究了松香施胶剂在纸页上的分布状况,
结 果 表 明 , 松 香 分 布 在 纸 页 表 面 极 薄 的 一 层 里 。 此
外,AFM、XPS、ToF-SIMS常常被结合在一起,用来分析纤维表面以及
纸页表面特性。

四、原子力显微镜：原子力显微镜是观察表面形貌的一种新型

扫描探针显微镜,它的出现弥补了扫描隧道显微镜不能观测非导电
样品的缺陷。AFM是通过一个微小的探针来摸索微观世界,在立体
三维上观察物质的形貌,并能获得探针与样品相互作用的信息,典型
AFM的测向分辨率(X,Y方向)可达到2nm,垂直分辨率(Z方向)小于
0.1nm。AFM具有操作容易,样品准备简单,操作环境不受限制,分辨
率高等优点[1]。原子力显微镜有四种基本成像模式,分别是接触式、
非接触式、敲击式和升降式。目前应用于制浆造纸研究的多为敲击
式。在制浆造纸研究中主要利用AFM进行形貌观察、相图绘制和力
学曲线的测定等。

五、X射线光电子能谱(XPS)X射线光电子能谱目前被认为是表

面化学分析最有效的方法,它在所有表面分析能谱中获得的化学信
息最多,它具有元素定性、定量分析能力,也可以测定元素在化合物
中存在的价态,同时还能感受该元素周围其它元素、官能团、原子团
对其内壳电子的影响所产生的化学位移。Ness等人[2]利用XPS研究
了过氧化氢漂白对两种TMP浆料的自施胶性能的影响。结果表明过
氧化氢漂白引起了自施胶能力的降低。刘长恩等人[3]利用XPS对稀
土助漂时硫酸盐木浆的表面相特征进行了研究,表明XPS是研究纤
维表面相的有力方法。

结论：现代分析技术发展非常迅速，在制浆造纸工业中已经成