为了防止
二极管电压偏
差和电压测量
时的误差等影
响引入不必要
的量产损失，
在实际测试中
的判决电压值
为：对地连接
性

-1～0.1 V，

对电源连接性
0.1～1V。
　　

1.2 

BIST，Scan
测试
　　

BIST 与

Scan 的测试
方式基本相同，
都是对芯片输
入一测试向量然后比对输出向量的检测。测试向量

(pattern)由后端仿真得出的波

形产生

(WGL，Wave Generation Language)文件转换而来。BIST 作为普通功能测

试，施加激励，对输出进行判断。虽然

Sean 测试是结构性测试，但对于 ATE 而

言，其测试方法与功能测试并无区别，只是

Scan 测试可以较少的测试向量达到

较高的测试覆盖率。

ATE 功能测试原理如图 3 所示。

　　

1.3 

ADC 测
试
　　根据
测试方案，
使用

ATE

的模拟波
形发生单
元

(HLFG)

产生一频
率约为
132 kHz
的正弦信
号作为
DUT 的模
拟输入，芯片的数字码输出由

ATE 的 DCAP 模块采样并保存在内存中。测试程

序再对

DCAP 保存的数据进行 FFT 分析，计算得到 SNR 参数，并由 SNR 的值

判断

DUT 是否通过 A/D 测试。