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基于

HARQ 的 TD-LTE 基站性能测试方

  

0 引言

  

LTE(Long Term Evolution 长期演进)技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一

种先进的技术,

LTE 系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制面和用户面

时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的优势。同时,

LTE 系统与现有系统

2G/2.5G/3G)能够共存,并且实现平滑演进。

  

LTE 系统按照双工方式分为频分双工(FDD)和时分双工(TDD)两种。其中 LTE-

TDD 制式相对于 FDD 制式具有频谱利用灵活、支持非对称业务等诸多优势,是中国通信业
界力推的国际标准。

  系统吞吐率是衡量

TD-LTE 基站综合性能的重要指标。吞吐率的测试需要基站(eNB)

与测试仪器(模拟

UE)之间实现实时反馈并动态调整。测试仪器不仅需要能够生成符合

3GPP 标准的 TD-LTE 上行信号,同时还需要模拟相应的信道衰落模型,并且根据基站下发

ACK/NACK 指令实时地调整发射信号的编码冗余因子,以模拟真实的通信环境。本方案

采 用 安 捷 伦 基 带 信 号 发 生 器 与 信 道 仿 真 仪

N5106A  PXB 或 安 捷 伦 最 新 信 号 发 生 器

N5182B/N5172B 作为测试平台,通过 Real-time 版本的 Signal Studio N7625 for LTE TDD 生

TD-LTE 测试信号并经过信道衰落后送给基站进行解码从而可以统计出基站的吞吐率。

  

1 HARQ 测试原理

  

1.1 上行 HARQ 方式

  

LTE 系统将在上行链路采用同步非自适应 HARQ 技术。虽然异步自适应 HARQ 技术与

同步非自适应技术比较,在调度方面的灵活性更高,但是后者所需的信令开销更少。由于上
行链路的复杂性,来自其他小区用户的干扰是不确定的,因此基站无法精确估测出各个用
户实际的信干比(

SINR)值。由于 SINR 值的不准确性导致上行链路对于调制编码模式

MCS)的选择不够精确,所以更多地依赖 HARQ 技术来保证系统的性能。因此,上行链

路的平均传输次数会高于下行链路。所以,考虑到控制信令的开销问题,在上行链路使用同
步非自适应

HARQ 技术。

  

1.2 上行 HARQ 时序

  

LTE TDD 制式的上下行信号在时域上交错分布,因此其 HARQ 时序映射关系较 FDD