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运行:点击计算机监控程序界面上的 工艺运行 键,进入工艺运行登陆界面,选择规

定的工艺号;确认无误后点击 运行 按钮。系统开始运行。

工艺过程:
M5111—4W*/UM 系列软着陆闭管高温扩散/氧化系统
放舟(

400s →

) 恒温

(600s)→氧化(600s)→等待(600s)→扩散(600s)→深扩散

(800s)→氧化(300s)→氧化(300s)→取舟(500s)

POCL

3

==PCL

5

+P

2

O

5

PCL

5

 +O

2

==P

2

O

5

+CL

2

P

2

O

5

 +Si==SiO

2

+P

放舟:将石英舟推入石英炉管内。
恒温:放到高温石英管中的硅片达到恒定温定。
氧化:通氧,在硅片表面形成很薄的一层氧化层,调节扩散的速度与均匀性。
等待:有氮气流过液态磷源,携带气态的三氯氧磷到扩散管中,通过高温分解及氧化

形成五氧化二磷。

扩散:五氧化二磷与硅片表面的硅原子反应生成二氧化硅与磷原子,磷原子夹杂在二

氧化硅中,这层夹杂着磷原子的二氧化硅层称为磷硅玻璃层,磷原子在高温下开始向硅内
部扩散。

深扩散:在高温下进一步使磷原子向硅内部扩散。
氧化:停止通入磷原,只通入氧气,使已经形成的磷原子继续向硅内部扩散。
氧化:继续通入氧气。
取舟:停止通入氧气,将已经完成扩散的硅片从高温炉管中取出,由于硅片温度很高

因此需要控制取出的速度。

为确认扩散过程达到工艺要求,需要对已扩散的硅片测试方块电阻。所用仪器

SDY

—4

型四探针测试仪,每舟测两片,每片测

5 点,得平均值,算出相对偏差。

各因素对硅片方块电阻的影响:
温度:温度高时掺杂速度加快,方块电阻减小;
三氯氧磷:随着三氯氧磷温度和浓度的升高,扩散速度加快,方块电阻减小;
时间:随着时间的延长,扩散量增加,方块电阻减小;
通氧量:过多的通氧量会在表面形成较厚的氧化层,减缓磷原子扩散速度,使方块电

阻变大,过少的通氧量又使五氯化磷不能完全氧化成五氧化二磷,扩散量偏少,增大方块
电阻。

2.4 刻蚀

原理:扩散后的硅片周边表面也形成了扩散层。周边扩散层使电池的上下电极形成短路,

须将它除去,所以需要刻蚀操作。

利用辉光放电生成的氟离子和硅发生反应,生成挥发性产物

SiF4,可以达到边缘刻蚀

的目的。刻蚀过程的化学反应:

CF

4

==2F+CF

2

SiO

4

+4F==SiF

4

↑+2O

SiO

2

+2CF

4

==SiF

4

↑+2CO↑

环境:
温度:

15

—30℃ 清洁等级:10000 级

光伏新线志圣刻蚀机操作
电气点检:电源确认;
气路确认:检查

CDA,N

2

O

2

,CF

4

以及

Dry Pump 气体压力是否符合要求,CDA 和主