4　ARM 体系中的调试

调试阶段在整个系统开发过程中

所占的比重越来越大，因此拥有

高效、强大的调试系统可以大大减

少开发时间，加快产品面市时间，

减轻系统开发工作量。

ARM 体系

结构包含了完善的调试手段，下

面仅介绍基于

JTAG 的 ICE 类型

调试的原理。

4.1 基于 JTAG 的 ICE 类型调试

基于

JTAG 的调试系统结构（图

4）包括：位于主机上的调试器、目标系统、主机和目标系统之间进行分析和转换的模块。JTAG 调试是边界扫描方式，

LPC2214 微核电路部件的每个 I/O 引脚包含一个电路元件，此元件的接口连接到 JTAG 二进制位移位寄存器上进行测试，

这样每个引脚都被

JTAG 采样或监听。ARM7TDMI（图 2）的 TAP 控制器通过 JTAG 接口控制各个硬件扫描链，扫描链 0

可以访问所有外围部件；扫描链

1 是扫描链 0 的一部分，它可以访问数据总线和控制总线 BREAKPT；扫描链 2 主要用于

访问

Embedded ICE 逻辑部件中的各寄存器。ARM7TDMI 调试接口建立在 IEEE1149－1190 标准之上，该标准定义了访

问芯片的

5 个引脚串行通讯协议，可以通过 5 个引脚访问芯片内部，从而可以进行调试和测试。JTAG 调试过程：①设置程

序断点、数据断点或相应外部请求，以便进入调试状态；

②当程序运行到断点指令时，处理器进入调试状态，此时断点指令

还没执行；

③在调试状态用户执行所需的调试能，如停止目标程序执行、查看目标内核状态、查看和修改存储器的内容等。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                                               

5．结束语

本文通过对嵌入式实时操作系统

μC/OS-II 中的关键技术及 ARM 体系组结构和调试的分析，结合 LPC2214 的硬件结构和运行环境，说明了 μC/OS-II 的移

植、

PLPC2214 的应用和调试。