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晶体硅太阳电池及组件EL测试介绍

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级别:| 积分:0 分 | 浏览:70304 | 大小:14.00KB | 下载:3893 次 | 上传:2013-09-04

简介:

本文基于电致发光(Electroluminescence,EL)的理论,介绍了利用近红外检测的方法,检测出了晶体硅太阳电池及组件中常见的隐性缺陷。这些缺陷包括:硅材料缺陷、扩散缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷以及组件封装过程中的裂纹等,并简要分析了造成这些缺陷的原因。

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